Vincent Jacques La diffraction cohérente des rayons X: Application à l'étude de défauts topologiques dans les structures atomiques et électroniques (Omn.Univ.Europ.) - indir bedava kayıt olmadan

La diffraction cohérente des rayons X: Application à l'étude de défauts topologiques dans les structures atomiques et électroniques (Omn.Univ.Europ.)

Astronomi ve Uzay Bilimi

La diffraction cohérente des rayons X est une technique relativement récente, qui permet de réaliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matière dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l'espace réel à l'aide d'algorithmes basés sur des calculs de transformée de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut être appliquée à l'étude de défauts de phase isolés tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent être reconstruits sans algorithme. Il apparaît que la technique peut en principe surpasser en résolution la topograhie X, technique de choix pour les études de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi été imagées. Nous montrons également que de réelles conclusions physiques peuvent être tirées, à travers l'étude de défauts de phase de structures électroniques dans des systèmes développant des ondes de densité de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdène K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systèmes étudiés dans ce travail. Un certain nombre de questions liées à la structure statique et dynamique de ces cristaux électroniques sont soulevées, et des modèles théoriques sont proposés.

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John Wiley & Sons Inc 1 Ocak 2016 Independently Published 1 Ocak 2015 3 Ocak 2017 Cambridge University Press Marvin Bittinger Springer 1 Ocak 2018 Nobel Akademik Yayıncılık; 1. baskı John Hornsby Cambridge University Press BrownTrout Publisher Nobel Akademik Yayıncılık; Facsimile. baskı Springer 1 Ocak 2017 1 Haziran 2018 Kolektif

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